成像分辨率和探测距离是受多种因素共同影响的。其中主要包括以下几个因素：
探测器的性能：探测器的灵敏度、响应速度、噪声水平等性能将直接影响成像分辨率和探测距离。高性能的探测器能够提供更高清晰度的图像和更远的探测距离。
光源的强度和波长：光源的强度直接影响到成像分辨率和探测距离，光源的强度越大，成像分辨率和探测距离就越高。同时，光源的波长也会影响成像的清晰度和探测距离，不同波长的光源在不同环境下的表现也有所不同。
环境因素：包括大气条件、气候情况、背景光照等环境因素都会影响成像分辨率和探测距离。在恶劣的环境条件下，成像分辨率可能会降低，探测距离也会受到限制。
光路系统的设计：光路系统的设计对成像分辨率和探测距离也有着重要的影响。合理设计的光路系统能够提高成像质量和探测距离，而不合理的设计则可能会造成成像模糊和探测距离受限。
总的来说，成像分辨率和探测距离受多种因素共同影响，需要综合考虑以上因素并进行系统优化设计，才能获得高质量的成像和远距离的探测能力。